超聲波對比試塊無損探傷試塊
簡要描述:產(chǎn)品型號和價格A型T=25mm 2050A型支架3# 1600B型T=50mm 3150B型支架5# 1600C型T=100mm 4600C型支架6# 1600D型T=200mm 6000D型支架8# 2200E型T=400mm 22500E型支架 2200超聲波對比試塊無損探傷試塊
- 產(chǎn)品型號:TOFD-A/B/C/D/E
- 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
- 更新時間:2022-07-11
- 訪 問 量:8003
超聲波對比試塊無損探傷試塊
一、首先檢測前需要對檢測靈敏度進行確定,確定的方法一般應(yīng)采用對比試塊來進行。
根據(jù)NB 47013.10 衍射時差法超聲檢測標(biāo)準(zhǔn)要求:
1.當(dāng)采用對比試塊上的反射體設(shè)置靈敏度時,需要將較弱的衍射信號波幅設(shè)置為滿屏高的40%-80%,并在被檢工件表面掃查時進行表面耦合補償。
2.當(dāng)被檢工件厚度不大于50mm且采用單通道檢測時,也可直接在被檢工件上進行靈敏度設(shè)置,一般將直通波的波幅設(shè)置到滿屏高的40%-80%。
3.當(dāng)然也可以使用對比試塊進行校準(zhǔn),對于壁厚12mm≤t≤25mm的試塊,應(yīng)至少設(shè)置3個反射體,包括一個試塊表面的矩形槽,掃查面下4mm處一個2mm側(cè)孔,以及一個1/2t處尖槽或者一個側(cè)孔。(具體要求參見標(biāo)準(zhǔn))
如果用對比試塊進行靈敏度校準(zhǔn),則需要對比試塊上較弱的缺陷信號調(diào)至40%-80%之間。
TOFD(Time of Flight Diffraction)技術(shù)是一種基于衍射信號實施檢測的技術(shù),即衍射時差法超聲檢測技術(shù)??偟膩碚f。
二、TOFD技術(shù)有很多優(yōu)點: